A Comprehensive Analysis of Irradiated Silicon Detectors at Cryogenic Temperatures

F Moscatelli;
2003

2003
Inglese
IEEE Nuclear Science Symposium 2002
628
632
0-7803-7636-6
No
10-16/11/2002
7
none
Santocchia, A; Macevoy, B; Hall, G; Bilei, Gm; Moscatelli, F; Passeri, D; Pignatel, Gu
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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