CNR Institutional Research Information System

Defects modeling of heavily irradiated silicon detectors

FMoscatelli;
2002
2002
38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials
291
296
961-91023-0-4
Lipica, Slovenia
7
none
Gmbilei, ; Fmoscatelli, ; Dpasseri, ; Gupignatel, ; Asantocchia, ; Ghall, ; Bmacevoy,
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/205649
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