CNR Institutional Research Information System

Nonlinear characterization of nm-thick dielectric layers using Surface Plasmon Resonance techniques

G Margheri;S Sottini;G Toci
2003
2003
Inglese
WOS:000182063000014
20
4
741
751
2-s2.0-0038173564
Sì, ma tipo non specificato
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Margheri, G; Egiorgetti, ; Sottini, S; Toci, G
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/207684
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