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abstract

Does interferometer monitor thickness or optical-path variations?

Pietro Ferraro
1998

Abstract

abstract
1998
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
light interferometers
glass
thickness measurement
refractive index
thermal expansion
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/208017
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