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Determination of bulk mismatch values in trasmission electron microscopy cross-sections of heteostructures by convergent-beam electron diffraction

R Balboni;
1998
1998
Inglese
WOS:000071592400005
77
1
67
83
17
2-s2.0-0038857074
Sì, ma tipo non specificato
RELAXATION
SI1-XGEX
SILICON
STRAIN
GROWTH
1
info:eu-repo/semantics/article
262
R Balboni; S Frabboni; A Armigliato
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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