CNR Institutional Research Information System

Improving floating-gate memory reliability by nanocrystal storage and pulsed tunnel programming

2004
2004
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
4
390
396
0
info:eu-repo/semantics/article
262
G. Puzzilli; D. Caputo; F. Irrera; C. Monzio Compagnoni; D. Ielmini; A. S. Spinelli; A. L. Lacaita;C. Gerardi
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none
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