CNR Institutional Research Information System

A compositional TEM study of TiSi2 metal layers deposited on silicon

Balboni R;
2001
2001
Inglese
PROCEEDINGS OF THE 5TH MULTINATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY
5th Multinational Congress on Electron Microscopy
325
326
2
1-58949-003-7
Rinton Press
Princeton
STATI UNITI D'AMERICA
Sì, ma tipo non specificato
SEP 20-25, 2001
LECCE, ITALY
WOS:000183071700130
2
none
Wang TS.; Benedetti A.; Cullis AG.; Armigliato A.; Balboni R.; Frabboni S.; Pavia G.
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/210037
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact