Risultati del progetto di realizzazione del sistema di detezione veloce di difetti meccanici sulle celle solari per mezzo di apparati a raggi X. Il candidato ha utilizzato radiografi a media ed alta risoluzione, utilizzando tubi a RX microfocus e sistemi CCD di detezione ad alta risoluzione, simili ai sistemi medicali. In questo modo si è giunti ad analizzare una cella in 4 secondi, raffinamento compreso.
X-Ray Characterization of Surface and Sub-Surface Defects in Silicon
P Plescia
2001
Abstract
Risultati del progetto di realizzazione del sistema di detezione veloce di difetti meccanici sulle celle solari per mezzo di apparati a raggi X. Il candidato ha utilizzato radiografi a media ed alta risoluzione, utilizzando tubi a RX microfocus e sistemi CCD di detezione ad alta risoluzione, simili ai sistemi medicali. In questo modo si è giunti ad analizzare una cella in 4 secondi, raffinamento compreso.File in questo prodotto:
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