XRF spectrometers based on monolithic arrays of silicon drift detectors: Elemental mapping analyses and advanced detector structures

2006

2006
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
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info:eu-repo/semantics/article
262
Longoni, A; Fiorini, C; Guazzoni, C; Buzzetti, S; Bellini, M; Struder, L; Lechner, P; Bjeoumikhov, A; Kemmer, J
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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