CNR Institutional Research Information System

The use of Surface Enhanced Raman Scattering to investigate the surface of semiconductors

L G Quagliano;
1994
1994
Inglese
David Lockwood
International Conference on the Physics of Semiconductors
International Conference on the Physics of Semiconductors
505
508
978-981-02-2979-5
World Scientific Publishing Co
Singapore
SINGAPORE
Sì, ma tipo non specificato
1994
Surface Enhanced Raman Scattering
surface
semiconductors
3
none
G Quagliano, L; Jusserand, B; R Ladan, F
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/217694
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