CNR Institutional Research Information System

Recent applications of secondary ion mass spectrometry to the analysis of geological materials

OTTOLINI L
1998
1998
Istituto di Geoscienze e Georisorse - IGG - Sede Pisa
"Metodi in Geochimica", Scuola di Geochimica in onore del Prof. M. Galli
15
17
Sì, ma tipo non specificato
1-2 giugno (1998)
St. Margherita Ligure
1
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
OTTOLINI L.
04.02 Abstract in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/225637
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact