CNR Institutional Research Information System

Noise performance of polycrystalline silicon thin-film transistors made by sequential lateral solidification.

Valletta A;Mariucci L;Pecora A;Fortunato G
2003
2003
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
polycrystalline sili
thin film transistor
low-frequency noise
01.01 Articolo in rivista
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