CNR Institutional Research Information System

2003, vol.428, pag. 160-164

Real time spectroscopic ellipsometric analysis of Ge film growth on Si(001) substrate.

2003

Abstract

2003, vol.428, pag. 160-164
2003
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/22659
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