Combining Microscopic (SEM-BSE), Microanalytical (EMP+SIMS) and X-Ray Diffraction Techniques in the Study of Igneous Rock Samples for Geochemical Modelling

OBERTI R;OTTOLINI L;
2001

2001
Istituto di Geoscienze e Georisorse - IGG - Sede Pisa
Inglese
EUG XI
679
680
Sì, ma tipo non specificato
8-12 April (2001)
Strasbourg (France)
2
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
DELLA VENTURA G.; OBERTI R.; OTTOLINI L.; TERRY W.C.
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