CNR Institutional Research Information System

Spatial characterization of the local charge-distribution in silicon-rich-oxide channel-hot-electron injection based non-volatile memory cells using the charge pumping technique

Crupi I;
2003
2003
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
Non Volatile Semiconductor Memory Workshop
81
82
16 - 20 February 2003
Monterey (California)
4
none
Rosmeulen, M; Crupi, I; Van Houdt, J; De Meyer, C
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/234335
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