CNR Institutional Research Information System

Structural and optical study of InGaAs/InP single layers and multi quantum wells grown under tensile strain conditions

L Lazzarini;G Salviati;M Mazzer;
1995
1995
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
A. G. Cullis, A. E. Staton-Bevan
Microscopy of Semiconducting Materials 1995
Microscopy of Semiconducting Materials
365
370
0750303476
http://books.google.it/books/about/Microscopy_of_semiconducting_materials_1.html?id=VDMbAQAAIAAJ&redir_esc=y
Sì, ma tipo non specificato
20-23 March 1995
Oxford
9
none
Antolini, A; Papuzza, C; Schiavini, G; Soldani, D; Taiariol, F; Lazzarini, L; Salviati, G; Mazzer, M; Zanottifregonara, C
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/235566
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