CNR Institutional Research Information System

Optical, Structural and Interface Characterization of Single SiO2-SiC Core-Shell Nanowires Grown with a Low-Cost Method

F Fabbri;F Rossi;G Attolini;G Salviati;S Iannotta;L Aversa;R Verucchi;M Nardi;
2010
2010
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
01.01 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/236108
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact