Optical performances and characterization of an EUV and soft X-ray test facility

1999

1999
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Ultraviolet and X-Ray Detection, Spectroscopy, and Polarimetry III
SPIE Optics and Photonics 1999
94
102
Sì, ma tipo non specificato
1
none
Poletto, L Poletto, L; Boscolo, A Boscolo, A; Tondello, G Tondello, G
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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