Grazing-incidence flat-field spectrometer with spatial resolution capability for extended sources

L Poletto;
2000

2000
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
X-Ray Optics, Instruments, and Missions IV
SPIE Optics and Photonics 2000
182
192
Sì, ma tipo non specificato
1
none
L. Poletto; G. Tondello
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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