CNR Institutional Research Information System

The FIB approach to the nanofabrication of devices for in-situ TEM studies of nanostructures

E Cociancich;M Catalano;E Carlino
2007
2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Inglese
J. Nebesárová, P. Hozák
Proceedings 8th Multinational Congress on Microscopy
8th Multinational Congress on Microscopy
313
314
978-80-239-9397-4
Sì, ma tipo non specificato
June 17-21, 2007
Prague
5
none
Taurino, A; Cociancich, E; Krahne, R; Catalano, M; Carlino, E
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/238646
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