Characterization of single frequency Yb:KYF4 lasers at 1.03 µm for optical frequency metrology

P Laporta;E Sani;
2008

2008
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
57
1713
1717
1
info:eu-repo/semantics/article
262
G. Galzerano; P. Laporta; E. Sani; L. Bonelli; A. Toncelli; M. Tonelli; M. Norgia; A. Pesatori; C. Svelto
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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