CNR Institutional Research Information System

Mechanisms of breakdown in semi-insulating GaAs detectors under high reverse bias conditions studied by EBIC and OBIC

M Mazzer;A Cola;M De Vittorio;
1997
1997
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Microscopy of Semiconducting Materials 1997
Microscopy of Semiconducting Materials 1997
539
542
0750304642
http://www.amazon.com/Microscopy-Semiconducting-Materials-1997-Microscopical/dp/0750304642
Sì, ma tipo non specificato
7-10 April 1997
Oxford
2
none
M Mazzer; A Cola; L Vasanelli; M De Vittorio; C Pennetta; L Reggiani
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/241620
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