CNR Institutional Research Information System

Structural transformation of As-doped polycrystalline silicon layers used as emitter contacts

C Spinella;
1993
1993
Inglese
Cullis AG, StatonBevan AE, Hutchison JL
8th Royal-Microscopical-Society Conference: Microscopy of Semiconducting Materials 1993 (MSM VIII)
99
102
4
0-7503-0290-9
IOP Publishing Ltd.
Bristol BS1 6BE
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
Sì, ma tipo non specificato
APR 05-08, 1993
OXFORD UNIV, OXFORD, ENGLAND
WOS:A1993BA56Y00020
6
none
Spinella, C; Cacciato, A; Rimini, E; Fallico, G; Ferla, G; Ward, P
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/248607
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact