CNR Institutional Research Information System

Dynamics of intrinsic breakdown in thin gate oxides

S Lombardo;C Spinella
2000
2000
Inglese
The 197th Meeting of The Electrochemical Society
1
501
502
2
Sì, ma tipo non specificato
May 14-18, 2000
Toronto, Canada
5
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Lombardo, S; Crupi, F; Gerardi, C; Neri, B; Spinella, C
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/248663
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