CNR Institutional Research Information System

Electron Beam and Ion Beam Induced Depositions: morphology, composition, contaminations and applications to nanotechnology

A Taurino;M Catalano
2011
2011
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Proceedings of the X Multinational Congress on Microscopy
X Multinational Congress on Microscopy
521
522
Sì, ma tipo non specificato
Sept 4-9, 2011
Urbino
2
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Taurino, A; Catalano, M
04.02 Abstract in Atti di convegno
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