Transmission electron microscopy of Si dots used for single electron storage in floating gate MOS memories

C Spinella;S Lombardo;C Bongiorno;I Crupi
2001

2001
Inglese
5th Multinational Congress on Electron Microscopy
357
358
2
Sì, ma tipo non specificato
SEP 20-25, 2001
LECCE, ITALY
6
none
Spinella, C; Lombardo, S; Bongiorno, C; Gerardi, C; Vulpio, M; Crupi, I
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/248676
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact