Induced change of critical current density profile in Nb/Al-AlOx/Nb Josephson junctions

C Granata;L Petti;M Rippa;S Rombetto;B Ruggiero;M Russo;R Russo;A Vettoliere
2014

2014
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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