Charge retention phenomena in charge transfer silicon nitride: impact of technology and operating conditions

2011

2011
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
29
0
info:eu-repo/semantics/article
262
G. Ghidini; N. Galbiati; E. Mascellino; C. Scozzari; A. Sebastiani; S. Amoroso; C. Monzio Compagnoni; A. Sottocornola Spinelli; A. Maconi; R. Piagge; ...espandi
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/25325
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact