Sfoglia
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| LIGHT-BEAM INDUCED CURRENT IMAGING OF THE ELECTRICAL-ACTIVITY OF STACKING-FAULTS IN CZ SILICON | 1-gen-1989 | A.Cavallini; A.Castaldini; A.Poggi; E.Susi; |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Scopri
Tipologia
- 01 Contributo su Rivista141
Data di pubblicazione
- 2020 - 202569
- 2010 - 201950
- 2000 - 200912
- 1990 - 19994
- 1987 - 19896
Rivista
- LABOR45
- GIURISPRUDENZA COSTITUZIONALE15
- YEARBOOK OF INTERNATIONAL HUMANIT...15
- DIRITTO E GIURISPRUDENZA AGRARIA,...4
- IL DIRITTO FALLIMENTARE E DELLE S...4
- RIVISTA DI DIRITTO AGRARIO4
- GIURISPRUDENZA ITALIANA3
- ITALIAN YEARBOOK OF INTERNATIONAL...3
- FEDERALISMI.IT2
- GIURISPRUDENZA ITALIANA2
Keyword
- CEDU4
- diritto internazionale umanitario3
- fallimento3
- licenziamento3
- abusiva concessione di credito2
- Concordato preventivo2
- Corte Europea dei Diritti dell'Uomo2
- diritto penale internazionale2
- Italia2
- obbligo vaccinale2
Lingua
- ita86
- eng45
- it1
Accesso al fulltext
- no fulltext70
- restricted54
- open14
- reserved3