Digital speckle pattern interferometry for applications in cultural heritage

Pagliarulo V;Arena G;Paturzo M;Finizio A;Ferraro P
2012

2012
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Istituto Nazionale di Ottica - INO
Inglese
XX A.I.VE.LA. National Meeting
19-20 December 2012
Roma
5
none
Pagliarulo V.; Arena G.; Paturzo M.; Finizio A.; Ferraro P.
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/279431
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