Visibility of nanoscale features of materials with scanning electron microscopy

Morandi V
2001

2001
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
5th Multinational Congress on Electron Microscopy (MceM5)
327
334
8
1-58949-003-7
20-25 Settembre 2001
Lecce
1
none
Merli, PG; Morandi, V
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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