Characterization of tantalum oxide-based thin films prepared by chemical solution deposition

G Canu;
2011

2011
Istituto di Chimica della Materia Condensata e di Tecnologie per l'Energia - ICMATE
Inglese
ITC 2011 - International Thin-Film Transistors Conference
2011
Cambridge, UK
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
G. Canu; B. Malic; M. Kosec
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
1
   Oxide Materials Towards a Matured Post-silicon Electronics Era
   ORAMA
   FP7
   246334
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