SIMS AND X-RAY-DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF CARBON-DOPED GAAS, ALXGA1-XAS FILMS GROWN BY MBE

GIANNINI C;
1994

1994
22
1-12
367
371
5
1
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262
GERARDI, C; GIANNINI, C; TAPFER, L; FISCHER, A; PLOOG, KH
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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