Sensitivity and selectivity enhancement in WO3 and Cr2-xTiXO3 thin films deposited by pulsed laser ablation

Mezzi A;
2002

2002
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
7
197
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0
info:eu-repo/semantics/article
262
Ahmed F.; Nicoletti S.; Zampolli S.; Elmi I.; Parasini A.; Dori L.; Mezzi A.; Kaciulis S.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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