CNR Institutional Research Information System

Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda

Maddaloni P;Ferraro P;De Natale P;Coppola G;Gioffre M;Iodice M;De Nicola S
2004
2004
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto Nazionale di Ottica - INO
04.01 Contributo in Atti di convegno
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