CNR Institutional Research Information System

Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda

Maddaloni P;Ferraro P;De Natale P;Coppola G;Gioffre M;Iodice M;De Nicola S
2004
2004
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto Nazionale di Ottica - INO
Italiano
Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici"
Pavia
7
none
Maddaloni P.; Ferraro P.; De Natale P.; Coppola G.; Gioffre M.; Iodice M.; De Nicola S.
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/293827
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact