Atomic forcemicroscopy characterization of sputtered vanadium oxide thin films grown on Al2O3 substrate
Atomic forcemicroscopy characterization of sputtered vanadium oxide thin films grown on Al2O3 substrate
Cricenti A;Girasole M;
1998
Abstract
Atomic forcemicroscopy characterization of sputtered vanadium oxide thin films grown on Al2O3 substrateFile in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


