CNR Institutional Research Information System

This chapter describes the technique of total reflection XAS.

Reflection XAFS

F d'Acapito
2016

Abstract

This chapter describes the technique of total reflection XAS.
2016
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Inglese, Medio (1100-1500)
Yasuhiro Iwasawa, Kiyotaka Asakura, Mizuki Tada
XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces
207
228
978-3-319-43864-1
http://www.springer.com/gp/book/9783319438641
Springer International Publishing
Switzerland
SVIZZERA
Sì, ma tipo non specificato
Reflection XAS
Synchrotron Radiation Instrumentation
XAS data analysis
1
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
D'Acapito, F
info:eu-repo/semantics/bookPart
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/322299
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact