A variety of numerical tools can be used to compensate for unwanted aberrations in acquired digitized holograms and improve the precision of metrology measurements.

Characterizing microelectromechanical systems with digital holography

Vito Pagliarulo;Pietro Ferraro
2016

Abstract

A variety of numerical tools can be used to compensate for unwanted aberrations in acquired digitized holograms and improve the precision of metrology measurements.
2016
Istituto di Scienze Applicate e Sistemi Intelligenti "Eduardo Caianiello" - ISASI
MEMS
holography
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/331805
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact