Non-invasive, multispectral characterization of integrated photonic circuits paves the way towards optical methodologies ready for industrial applications.

INTEGRATED PHOTONICS Device-level photonic testing

Burresi;Matteo
2015

Abstract

Non-invasive, multispectral characterization of integrated photonic circuits paves the way towards optical methodologies ready for industrial applications.
2015
Istituto Nazionale di Ottica - INO
silicon; space
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/335629
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