Tato kapitola p?edstavuje p?íklady aplikace systematické metodologie, kterou lze pou?ívat k rutinní charakterizaci mikrostruktury hutné a porézní keramiky a podobných materiál? (polykrystalických kov?, hornin atd.). Ur?ením objemové frakce pór?, st?ední délky úsek? a Jeffriesovy velikosti se mo?nosti obrazové analýzy v podstat? vy?erpají, proto?e z planárních ?ez? lze principiáln? ur?it pouze omezený po?et nezávislých globálních mikrostrukturních deskriptor? (u dvoufázových materiál? t?i, u jednofázových polykrystalických materiál? dva). P?edev?ím je nutno zd?raznit, ?e tímto zp?sobem obvykle nelze získat informaci o trojrozm?rné konektivit? pórového prostoru nebo o po?tu objekt? (pór? nebo zrn) v jednotkovém objemu. Pro ?e?ení t?chto úkol? je nezbytná tomografie nebo p?inejmen?ím tzv. disektorová sonda.
Charakterizace keramických materiál? obrazovou analýzou
J Hostasa;
2017
Abstract
Tato kapitola p?edstavuje p?íklady aplikace systematické metodologie, kterou lze pou?ívat k rutinní charakterizaci mikrostruktury hutné a porézní keramiky a podobných materiál? (polykrystalických kov?, hornin atd.). Ur?ením objemové frakce pór?, st?ední délky úsek? a Jeffriesovy velikosti se mo?nosti obrazové analýzy v podstat? vy?erpají, proto?e z planárních ?ez? lze principiáln? ur?it pouze omezený po?et nezávislých globálních mikrostrukturních deskriptor? (u dvoufázových materiál? t?i, u jednofázových polykrystalických materiál? dva). P?edev?ím je nutno zd?raznit, ?e tímto zp?sobem obvykle nelze získat informaci o trojrozm?rné konektivit? pórového prostoru nebo o po?tu objekt? (pór? nebo zrn) v jednotkovém objemu. Pro ?e?ení t?chto úkol? je nezbytná tomografie nebo p?inejmen?ím tzv. disektorová sonda.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
