X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers

Vecchione A;Fittipaldi R;Cirillo C;Attanasio C
2011

2011
Istituto Superconduttori, materiali innovativi e dispositivi - SPIN
605
1791
1796
9
info:eu-repo/semantics/article
262
Vecchione, A; Fittipaldi, R; Cirillo, C; Hesselberth, M; Aarts, J; Prischepa, Sl; Kushnir, Vn; Kupriyanov, My; Attanasio, C
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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