This paper is a summary of the keynote presented at the 22nd IMEKO TC4 Symposium and 20th International Workshop on ADC Modelling and Testing. © 2018 IMEKO-International Measurement Federation Secretariat.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


