Erbium environment on Er-doped silica and alumino-silicate glass films: An EXAFS study

Maurizio C;
2010

2010
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
268
311
315
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Cattaruzza, E.; Maurizio, C.; Visentin, L.; Trave, E.; Martucci, A.; Ali, S.; Battaglin, G.; Gonella, F.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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