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Wafer-scale VLSI testing

Chessa S;
2000

Abstract

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2000
Istituto di Scienza e Tecnologie dell'Informazione "Alessandro Faedo" - ISTI
Sommario non disponibile.
Wafer scale integration
Computer-communication networks
VLSI systems
Types and design styles
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Descrizione: Wafer-scale VLSI testing
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