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Wafer-scale VLSI testing

Chessa S;
2000

Abstract

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2000
Istituto di Scienza e Tecnologie dell'Informazione "Alessandro Faedo" - ISTI
Inglese
12th Workshop on Testmethods and Reliability of Circuits and Systems
1
4
5
Sì, ma tipo non specificato
19-21 March 2000
Grassau, Germany
Sommario non disponibile.
Wafer scale integration
Computer-communication networks
VLSI systems
Types and design styles
Codice PuMa: cnr.iei/2000-A2-004
2-s2.0-0034478385
3
open
Caruso, A; Chessa, S; Maestrini, P
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Descrizione: Wafer-scale VLSI testing
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