The authors regret a typo on page 166 of the paper; the anisotropy (K1) values are in the range of 7-9 × 105 J/m3.

Corrigendum to "Evidence for in-plane tetragonal c-axis in MnxGa1-x thin films using transmission electron microscopy" [Scr. Mater. 114 (2016) 165-169]

Casoli F;Lupo P;Nasi L;Fabbrici S;Albertini F;
2016

Abstract

The authors regret a typo on page 166 of the paper; the anisotropy (K1) values are in the range of 7-9 × 105 J/m3.
2016
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Atomic force microscopy
Hard magnetic materials
Sputtering
Transmission electron microscopy (TEM)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/368673
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