CNR Institutional Research Information System

Impact of neutral threshold-voltage spread and electron-emission statistics on data retention of nanoscale NAND Flash

2010
2010
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
31
1202
1204
0
info:eu-repo/semantics/article
262
C. Miccoli; C. Monzio Compagnoni; S. M. Amoroso; A. Spessot; P. Fantini; A. Visconti; A. Sottocornola Spinelli
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none
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