CNR Institutional Research Information System

[object Object]

Surface damage characterization of FBK devices for High Luminosity LHC (HL-LHC) operations

Moscatelli F;
2017

Abstract

[object Object]
2017
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Radiation damage evaluation methods
Radiation damage to detector materials (solid state)
Radiation damage to electronic components
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/373529
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