[object Object]

Surface damage characterization of FBK devices for High Luminosity LHC (HL-LHC) operations

Moscatelli F;
2017

Abstract

[object Object]
2017
Istituto Officina dei Materiali - IOM -
Inglese
12
12
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-85039779967&partnerID=q2rCbXpz
Radiation damage evaluation methods
Radiation damage to detector materials (solid state)
Radiation damage to electronic components
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Moscatelli F.; Passeri D.; Morozzi A.; Betta G.F.D.; Mattiazzo S.; Bomben M.; Bilei G.M.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/373529
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 11
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact